Ausstattung

Für unseren Forschungs- und Lehrbetrieb stehen uns an der Professur zahlreiche Teststände und Messgeräte zur Verfügung.

Neben den hier aufgelisteten Geräten und Testständen, stehen uns in Zusammenarbeit mit unseren Partnern auch weitere Möglichkeiten zur Verfügung um eine Vielzahl an Untersuchungen im Forschungsbetrieb und Dienstleistungsbereich anbieten zu können.

Überlastuntersuchungen und dynamische Charakterisierung

Teststände für Kurzschlüsse und Schaltvorgänge

Teststände für Hochspannungen bis 6 kV
	Durchführbare Untersuchungen	Kurzschlussmessungen (I,II,III) | Doppelpulsmessungen | frequentiertes Schalten
	Technische Highlights	Zwischenkreisspannungen bis 6 kV möglich Parasitäre Induktivitäten durch flexiblen Aufbau variabel Messungen unter Raum- und erhöhter Temperatur möglich Messung mit bis zu 6 Kanälen, 12Bit, 2 GHz und 2,5 GSa möglich Zuverlässige Messung von Halbleitern auf DCB Substrat möglich Steuereungssystem und Sicherheitsvorkehrungen gewährleisten Durchführung ohne mögliche Personenschäden

Lastwechselteststände

Übersicht zu den verfügbaren Lastwechseltestständen
	Durchführbare Untersuchungen	Beschleunigte Lebensdaueruntersuchungen Thermische Impedanzmessung
	Technische Highlights	15 Teststände verfügbar Bis zu 2000 A möglich Flexible Programmierung und Messung von relevanten Parametern gemäß der gewünschten Teststrategie Flexible Messzeiträume und Messverzögerungen Modularer und für jedes Package adaptierbarer Aufbau Messung von bis zu 15 Prüflingen gleichzeitig Lastwechsel mit passivem und aktivem Schalten von Bauelementen möglich Ständige Erweiterung der Möglichkeiten in Planung: Automatisierte Thresholdspannungsmessung Digitale Steuerung und Monitoring der Gatespannung Monitoring des Kühlkörper-Durchflusses

Zuverlässigkeitsuntersuchungen

Gatestresstests

Gatestresstest - HTGB
	Durchführbare Untersuchungen	Gestufte Gatestresstests
	Technische Highlights	Automatisierte Gateleckstromerfassung während des Tests Frei konfigurierbare Stufung Vermessungen von bis zu 100 Prüflingen gleichzeitig

High Temperature Reverse Bias - HTRB

High temperature reverse bias - HTRB
Durchführbare Untersuchungen	High Temperature Reverse Bias - HTRB
Technische Highlights	Kontinuierliche Messung des Sperrstroms Testbedingungen bei 150°C Test bei 80V oder bis zu 6,5kV Maximal 20 Prüflinge (abhängig von Modulgröße)

High humidity, high temperature, high voltage reverse bias test - H3TRB

High humidity, high temperature, high voltage reverse bias test - H3TRB
Durchführbare Untersuchungen	High humidity, high temperature, high voltage reverse bias test - H3TRB
Technische Highlights	Kontinuierliche Messung des Sperrstroms Testbedingungen bei 85°C Kammertemperatur und 85% relativer Luftfeuchtigkeit Test bei 80V oder 6,5kV Maximal 20 Prüflinge (abhängig von Modulgröße)

Fehleranalyse

Quantitativer Bonddrahttester

Quantitativer Bonddrahttester
	Durchführbare Untersuchungen	Bondraht-Zupf-Test mit qualitativer und quantitativer Aussagekraft
	Technische Highlights	Anpassung an verschiedene Gehäusetypen möglich Präzise digitale Messung mit einer Auflösung von 0,01 N

Mikroskop

Mikroskop
	Durchführbare Untersuchungen	Fehlerbildanalyse | Inspektion von Alterungsspuren
	Technische Highlights	Digitale Bearbeitung und Erstellung von Panorma Bildern Erstellung von 3D-Tiefen Bildern Vergrößerungen mit einem bis zu 2500-fachen Zoom

Ultraschallmikroskop

Ultraschallmikroskop
	Durchführbare Untersuchungen	Zerstörungsfreie Fehlerbildanalyse | Inspektion von Alterungs- und Zerstörungsspuren
	Technische Highlights	Verschiedene Auflösungen und Eindringtiefen sind mit Hilfe verschiedener Tastköpfe bzw. Frequenzbereiche möglich Unterschiedliche Scan-Modi erlauben Untersuchungen in zahlreichen Raumbereichen (vertikal, horizontal, gekippt) Programmierbare Ansteuerung und Autolokalisierung ermöglichen eine hohe Reproduzierbarkeit Vorgefertigte Gehäuseauflagen für alle kommerziellen Leistungsbauelementegehäusetypen