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Professur Fertigungsmesstechnik
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Veröffentlichungen

Ab 2007:

Die Veröffentlichungen ab 2007 können Sie in der Zentralen Datenbank der Universität einsehen.

2006:

Dietzsch M.; M. Gerlach; S. Gröger: Einordnung der Form- und Konturmessung in die geometrische Messtechnik. In: VDI Berichte. Form- und Konturmessung 2006. Nr. 1945, VDI-Verlag GmbH, S. 3-12, ISBN: 3-18-091945-0
Dietzsch, M.; Gerlach, M.; Gröger, S.: SPC im Austauschbau, Berichte zur GQW-Jahrestagung 22.-23. Februar 2006, Wuppertal, Band 8/2006.
Gerber, A.; Dietzsch, M.: Qualitätsinformationssystem (QIS) für Kleinstunternehmen und KMU. In: "Vernetzt planen und produzieren - VPP2006". Tagungsband, Wissenschaftliche Schriftenreihe des IBF, Sonderheft 12, TU Chemnitz, 14./15.09.2006, S. 139-144.
Gerber, A.; Dietzsch, M.; Knappe, F.: Qualitätsinformationssystem für den Mittelstand. ERP-Management, 2/2006, Berlin: GITO Verlag, 2006, S. 18-21.
Gröger S.; M. Krystek; M. Dietzsch; M. Neugebauer; M. Gerlach: Erfassung und Filterung bei der Form- und Konturmessung. In: VDI Berichte. Form- und Konturmessung 2006. Nr. 1945, VDI-Verlag GmbH, S. 105-114, ISBN: 3-18-091945-0
Gröger, S.; M. Dietzsch: Consequences for the assessment of functional requirements with tactile instruments in nanometrology, Seminar Nanoscale 2006, 24. -25.4. 2006, Bern, Schweiz
Gröger, S.; T. Dziomba, H. Winkler.: What is the real surface? - Is there a correlation between the mechanical surface and the electro-magnetic surface? Seminar Nanoscale 2006, 24. -25.4. 2006, Bern, Schweiz

2005:

Dietzsch, M.: Silizium hilft, Messen im Nanometerbereich; TU Spektrum Sonderausgabe, 10/2005, Seite 16, ISSN 0946-1817
Dietzsch, M.; Gerlach, M.: Örtliche Maße richtig bestimmen; QZ Qualität und Zuverlässigkeit 7/2005, Carl Hanser Verlag München, Seite 68 - 72, ISSN 0720-1214
Dietzsch, M.; Gerlach, M.; Gröger, S.: Back to the envelope system with morphological operations for the evaluation of surfaces; Proceedings Of The 10th International Conference On Metrology and Properties of Engineering Surfaces, July 4-7, 2005, Saint-Étienne, France, ISBN 2-86272-389-4
Dietzsch, M.: Qualitätssicherung - warum sich das Messen auszahlt. 3. Symposium für berührende und berührungslose Fertigungsmesstechnik, Karlsruhe, 2005
Gerber, A.; Althaus, K.; Dietzsch, M.: Quality Information System in Production Networks. CARV 2005, München.
Gröger, S.; Dietzsch, M.: "Atomic Flat" Silicon Surface fort he Calibration of Stylus Instruments; Buch: Nanoscale Calibration Standards and Methods - Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range; Edidet by G. Wilkening and L. Koenders, WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, 2005, ISBN-13 978-3-527-40502-2
Gröger, S.; Gerlach, M.; Dietzsch, M.: Zurück zum E-System? Bewertung von Oberflächenprofilen nach dem einhüllenden System; Berichte zur GQW-Jahrestagung 2005, Bonn, Band 7/2005, Shaker Verlag, ISBN 3-8322-3571-X
Gröger, S., M. Dietzsch, M. Gerlach and S. Jeß: `Real mechanical profile' - the new approach for nano-measurements, 2005 J. Phys.: Conf. Ser. 13, 13-19
Krystek, M., M. Dietzsch, S. Gröger, M. Gerlach: Morphologische Filter- ein neues Werkzeug, 3. Symposium für berührende und berührungslose Fertigungsmesstechnik, Karlsruhe, 2005
Krystek, M., U. Lunze, M. Dietzsch, O. Harnisch, M. Gerlach, A. Gläser: New concepts for the calculation of datums and datum-systems based on cylindrical features, ISMTII-7th International Symposium Series on Measurement Technology and Intelligent Instruments, Huddersfield, 2005
Trommler, J.; Althaus, K.; Dietzsch, M.: Aufbau eines Qualitätsmanagementsystems an der Fakultät für Maschinenbau der TU Chemnitz; Berichte zur GQW-Jahrestagung 2005, Bonn, Band 7/2005, Shaker Verlag, ISBN 3-8322-3571-X

2004:

Althaus, K.: CAQ für KMU, Produkthaftung managen, München, Qualität und Zuverlässigkeit, 10/2004, Carl Hanser Verlag, S.86-87
Althaus, K.: Kundenzufriedenheit und Kundenorientierung, München, Qualität und Zuverlässigkeit, 5/2004, Carl Hanser Verlag, S.172-173
Dietzsch, M.: Standardization of Geometrical Product Specifikation (GPS) General Concept, State-of-the-art-Samples of Standards, Seminar on Coordinate Metrology, Cairo, Egypt 2004
Dietzsch,M. S. Gröger, M. Gerlach: 'Atomic flat' silicon for the calibration of stylus instruments, 3rd China - German Symposium on Micro- and Nanotechnology, Shanghai, 2004
Dietzsch, M.; Gerber, A.; Althaus, K.: Selbstbewertung zum Erlangen der Ziele einer Organisation. Berichte zur GQW-Jahrestagung 25.Februar 2004, Berlin, Band 6/2004., ISBN 3-8322-2379-7
Dietzsch, M., Frenzel, C., Gerlach, M., Gröger, S., Hamann, D.: Consequences of the GPS standards to the assessment of surface topography, Chemnitz, XI. Colloquium on Surfaces 2004, ISBN 3-8322-2418-1
Gerber, A., Dietzsch, M., Althaus, K.: Information based, dynamic quality information system for non-hierarchic regional production networks. Journal: Robotics and Computer-Integrated Manufacturing, Elsevier, Volume 20, Issue 6 , December 2004, Pages 583-591, 2004.
Gerber, A., Althaus, K., Dietzsch, M.: Qualitätsinformationssystem auf ERP-Basis für KMU - Wahlversprechen, München, Qualität und Zuverlässigkeit, 9/2004, Carl Hanser Verlag, S.44-47
Gerber, A.; Althaus, K.; Dietzsch, M.: Dynamic Quality Information System (QIS) for Non-Hierarchical Regional Production Networks. In: "Vernetzt planen und produzieren - VPP2004" Tagungsband, Wissenschaftliche Schriftenreihe des IBF, Sonderheft 8, TU Chemnitz, 27./28.09.2004, S. 335-342, ISSN 0947-2495
Gerber, A.; Althaus, K.; Dietzsch, M.: Self-Assessment Model for Performance Measurement in Small and Medium Sized Enterprises. TMT 2004, Trends in the development of machinery and associated technology, 15.-19. September 2004, Neum, Bosnien-Herzegowina, ISBN 9958-617-21-8
Gerber, A.; Althaus, K.; Dietzsch, M.; Weidlich, D.; Steiner, R.: Risk-Management of Product Development in Non Hierarchical Regional Production Networks. ProVe2004, Virtual Enterprises and Collaborative Networks, 22.-27. August 2004, Toulouse, Frankreich, ISBN 1-4020-8138-3
Gerber, A.; Althaus, K.; Dietzsch, M.: A Systematic Approach for the Implementation of Computer Aided Quality Management within an Enterprise Resource Planning System (ERP). The 14th International Conference on Flexible Automation and Intelligent Manufacturing, FAIM-Tagungsband, 12.-14. Juli 2004, Toronto, Canada, ISBN 0-662-37241-7
Gerber, A.; Dietzsch, M.; Althaus, K.: Development of a Quality Information System for Non-hierarchical Regional Production Networks. XI. International Colloquium on Surfaces, Chemnitz 13. Januar 2004, ISBN 3-8322-2419-X

2003:

Althaus, K.; Kemper J.: Rechnergestützte Qualitätsinformationssysteme, Chemnitz, Qualitätsforum zur INTEC, 2003
Althaus, K.; Dietzsch, M.; Gerber, A.: Information Based, Dynamic Quality Information System for Non-Hierarchical Regional Production Networks. FAIM-Tagungsband, 09.-11. Juni 2003, Tampa, Florida.
Dietsch, M.: Einführung in die nationale und internationale GPS-Entwicklung, Mühlheim/Ruhr, GPS DIN Tagung, ISBN 3-410-15615-1, 2003
Dietzsch, M.; Althaus, K.; Gerber, A.: Verteilung von Qualitätsmanagementkomponenten auf Struktureinheiten. Berichte zur GQW-Jahrestagung 05.-06. Februar 2003, Aachen, Band 5/2003, ISBN 3-8322-1146-2
Gerber, A.: Verteilung von QM-Anforderungen auf Struktureinheiten in Unternehmen. Chemnitz, Qualitätsforum zur INTEC, 2003.
Gerber, A.; Althaus, K.: Unterstützung der Entwicklung von Kompetenzzellen durch Selbstbewertung. In: "Vernetzt planen und produzieren - VPP 2003". Tagungsband, Wissenschaftliche Schriftenreihe des IBF, Sonderheft 7, TU Chemnitz, 22./23.09.2003, S. 184-188, ISSN 0947-2495
Gerlach, M., Dietzsch M.: Durchmessermessung mit einer Messeinrichtung für die Serienfertigung, Oberhof/Thüringen, VDI-Bericht Nr. 1805, S.55-67, ISBN 3-18-091805-5, 2003

2002:

Dietzsch, M.: Sächsischer Staatspreis für Qualität fördert die Wettbewerbsfähigkeit, Wirtschaftsstandort Freistaat Sachsen, Europäischer Wirtschaftsverlag, 2002
Kotarsky, U., Manthey, W., Dietzsch, M., Bertz, M., Geßner, T.: Hochauflösender mikromechanischer Sensor zur Erfassung von Oberflächenprofilen mit großem Eigenzustellbereich. XVI. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer f. Messtechnik e.V., 30.09-02.10.2002 in Kassel, Shaker Verlag, S.25-38
Kotarsky, U., Manthey, W., Dietzsch, M., Bertz, A.: Hochauflösender mikromechanischer Sensor zur Erfassung von Oberflächenprofilen mit großem Eigenzustellbereich. 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 23.-26.09. 2002 in Ilmenau, S.586 - 587
Kotarsky, U., Manthey, W., Dietzsch, M., Bertz, M., Geßner, T.: Novel micromechanical scanning device with large vertical positioning range. Actuator 2002, 8th International Conference on New Actuators, 10.-12.06.2002 in Bremen, S.676-679

2001:

Althaus, K., Dietzsch, M.: Chancen der Unternehmensentwicklung durch Qualitätssicherung und produktionsintegrierten Umweltschutz Buch: Umweltorientierte Unternehmensführung und ökologische Steuerreform (2001).
Dietzsch, M., Meyer, M.: Grundlagen zur einheitlichen Ermittlung von Längenmaßen mit konventionellen Messgeräten und auf Koordinatenmessgeräten. DFG-Zwischenbericht DI 617/9-1, TU Chemnitz, 2001.
Dietzsch M., Schreiter, U., Jeß S.: Grundlagenuntersuchungen zur Ermittlung von Bezügen und Bezugssystemen für Lageabweichungen. DFG-Zwischenbericht DI 617/14-1, TU Chemnitz, 2001.
Dietzsch, M., Frenzel, C., Trumpold, H.: Calibration Standards for Calibrating and Assessing of Surface Measuring Systems down to the Nanometric Range. final report of the European research Project SMT 4-CT97-2176, 2001.
Dietzsch M., Krystek M., Meyer M.: Bestmögliche Annäherung. QZ 46 (2001) 5, S. 602-607, Carl Hanser Verlag
Dietzsch M., Richter G., Schreiter U., Krystek M.: Eindeutige Lösung - Neue Methode zum Bilden von Bezügen und Bezugssystemen. QZ 46 (2001) 6, S. 791-797, Carl Hanser Verlag
Manthey, W., Dietzsch, M., Kotarsky, U.: Sensor tastet Oberflächen im mm-Bereich ab. Maschinenmarkt 9/2001 S.36-38.

2000:

Dietzsch M., Meyer M., Schreiter U.: Normen für Formen. QZ 45 (2000) 6, S. 776-779, Carl Hanser Verlag
Dietzsch, M.; Meyer, M.; Storr, A.; Ströhle, H.: Verknüpfte Rohteilmessung und Bearbeitung großvolumiger Werkstücke. wt Werkstattstechnik 90 (2000) H. 6, S. 246-250.
Dietzsch, M.: Konsequenzen in der neuen Normung für geometrische Produktspezifikationen. Qualitätsmanagement in Industrie und Dienstleistung Jahrbuch 2000/01, S.75-88, Carl Hanser Verlag.
Kotarsky, U., Dietzsch, M.: Neuer Sensor zur Erfassung von Oberflächenprofilen TU Spektrum 4/2000, Druckwerkstätten Stollberg GmbH

1999:

Dietzsch, M., Meyer, M.: GPS `99 "Geometrische Produktspezifikation und -prüfung", FB ISO/TR 16015 "Ein Leitfaden zur Berücksichtigung des Temperatureinflusses bei der Längenmessung". 5. und 6. Mai 1999, Mainz, DIN-Tagung
Dietzsch, M., Althaus, K., Brandner, Th.: Fehler früh erkennen. QZ 44 (1999) 11, S. 1394 - 1398 Carl Hanser Verlag.
Dietzsch, M., Althaus, K.: Fehler und Risiken aufspüren - überall. QZ 44 (1999) 7, S. 889-892 Carl Hanser Verlag.