Technische Ausstattung

Mikrostrukturanalyse, Werkstoffanalytik und Werkstoffcharakterisierung

Rasterelektronenmikroskop ZEISS LEO1455VP mit Röntgenmikrobereichsanalyse EDAX GENESIS

1. Mikroskop
• Abbildung von Ober-, Schliff- bzw. Bruchflächen von:
• Ausgangsmaterialien (Pulver, Fasern, Folien)
• Werkstoffen, Verbundwerkstoffen und Werkstoffverbunden
• Beschichtungen
• Bauteilen
• Vergrößerungsbereich: 50-fach bis ca. 10.000-fach
• Detektoren:
• Kammerdetektor für Sekundärelektronen
• Kammerdetektor für Rückstreuelektronen
2. Energiedispersive Röntgenmikrobereichsanalyse (EDXS) EDAX Genesis
• Lokale chemische Analyse an ebenen Flächen:
• für Elemente mit Ordnungzahl Z ≥ 8
• Nachweisgrenze ca. 0,5 Gew.-% für Z ≥ 11
• Quantifizierungsfehler ca. 2 Gew.-% für Hauptanteile
• Arten:
• Durchschnittsanalyse
• Phasenanalyse (für Teilchenabmessung > 1 µm)
• Elementkonzentrationsverteilung entlang einer Geraden (Linescan)
• Zweidimensionale Elementkonzentrationsverteilung (Mapping)

→ siehe auch Dienstleistung Analytische Rasterelektronenmikroskopie

Ansprechpartner

Dr.-Ing. Andreas Gester

• Telefon:
  +49 371 531-33649
• Fax:
  +49 371 531- 833649
• Raum:
  3, 3/A105
• E-Mail:
  andreas.gester@…