Veröffentlichungen
Veröffentlichungen seit 2007
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Alternativ gibt es eine Liste der wichtigsten Veröffentlichungen von Prof. Dr. Bernhard Wunderle als PDF-Datei: Publikationen Stand Juni 2024.
Veröffentlichungen 2006
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R. Schacht, D. May, B. Wunderle, O. Wittler, A. Gollhardt, B. Michel and H. ReichlCharacterization of Thermal Interface Materials to Support Thermal Simulation.Proc. 12th Therminic 2006, Sep 27-29, Nice, Côte d'Azur, France, 2006.
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M. Dressler, H. Rohde, G. Liebing, K.-F. Becker, B. Wunderle and H. ReichlInfluence of Assembly Process, Material Properties and Geometry on the Reliability of Flip Chip Interconnections on MID for Automotive Applications.Proc. 7th MID Congress, Sep 27-28, F�rth, Germany, 2006
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T. Braun, B. Wunderle, K.-F. Becker, M. Koch, V. Bader, R. Aschenbrenner and H. ReichlImproved Reliability Of Leadfree Flip Chip Assemblies Using Direct Underfilling By Transfer Molding.Proc. 31st IEMT, Nov 8-10, 2006, Putrajaya, Malaysia
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R. Schacht, D. May, B. Wunderle, O. Wittler, A. Gollhardt, B. Michel and ReichlCharacterization of Thermal Interface Material.Proc. 1st ESTC 2006, Sep 5-7, 2006, Dresden, Germany, pp 1367-1373, 2006
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B. Wunderle and B. MichelProgress in Reliability Research in the Micro and Nano Region.Journal of Microelectronics Reliability, Elsevier, 46/9-11, pp 1685-1694, 2006
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M. Dressler, K.-F. Becker, B. Wunderle, H. Rohde, J. Auersperg, G. Liebing and H. ReichlIdentifying the reliability-affecting parameters of SBB Flip-Chip Interconnections for Automotive Applications.Proc. 1st ESTC, Sep 5-7, 2006, Dresden, Germany 2006
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E.D. Dermitzaki, J. Bauer, B. Wunderle, B. MichelDiffusion of water in amorphous polymers at different temperatures using molecular dynamics simulation.Proc. 1st ESTC, Sep 5-7, 2006, Dresden, Germany 2006
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R. Schacht, E. Auerswald, J.P. Sommer, B. Wunderle, B. Michel and H. ReichlAccelerated Active High-Temperature Cycling Test for Power MOSFETs.Proc. Itherm 2006, May 30 - June 2, San Diego, USA, 2006
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S. Déplanque, W. Nüchter, B. Wunderle, R. Schacht and B. MichelLifetime Prediction of SnPb and SnAgCu Solder Joints of Chips on Copper Substrate Based on Crack Propagation FE-Analysis.Proc. 7th EuroSimE Conf., Como, Italy, April 2006
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F. Schindler-Saefkow, D. May, B. Wunderle, R. Schacht, B. Michel3D-PCB-Packaging Technology for High Power Applications with Water Cooling.ACTUATOR 2006, June 14, Bremen, Germany, 2006
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Reithmeier, E.; Frühauf, J., Rahlves M.; Kraft, A.; Seifert, M.Heißprägen multifunktionaler Kalibriernormale f�r die optische 3D MikroskopieVDI-Berichte Nr. 1950 Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering, S. 35-44, VDI Verlag GmbH, Düsseldorf 2006
ISSN: 0083-5560
ISBN: 3-18-091950-7 -
Gärtner, E.; Frühauf, J.Silizium-Normale f�r die Tiefen- Längen- und RauheitsmesstechnikVDI-Berichte Nr. 1950 Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering, S. 25-34, VDI Verlag GmbH, Düsseldorf 2006
ISSN: 0083-5560
ISBN: 3-18-091950-7
Veröffentlichungen 2005
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B. Wunderle and B. MichelPackaging Reliability on the Way from Micro to Nano. (Keynote Paper)Intern. Congress Nanotechnology, International Congress on Nanotechnology 2005, San Francisco, USA, Nov 1-4, 2005
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D. Vogel, N. Sabate, B. Wunderle, J. Keller, B. Michel and H. ReichlNanoreliability for Mechanically Loaded Devices.International Congress of Nanotechnology 2005, San Francisco, USA, Nov 1-4, 2005
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B. Michel, B. Wunderle, A. Gollhardt, C. Bombach and J. KellerZuverlässigkeit von Komponenten der Mikrosystemtechnik durch die Einbeziehung von Nanoanalytik und Nanomechanik.Mikroelektronik, Chemnitz, Oct 26-27, 2005
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R. Schacht, D. May, B. Wunderle, O. Wittler, A. Gollhardt, B. Michel and H. ReichlCharacterization of Thermal Interface Material for Thermal Simulation.Proc. Deutsche IMAPS-Konferenz 2005, Okt 10-11, 2005, Munich, Germany
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R. Schacht, E. Auerswald, J.P. Sommer, B. Wunderle, B. Michel and H. ReichlAccelerated Failure Test for High-T Applications of Power MOSFETs by Power Cycling.Proc. 11th Therminic 2005, Sep 28-30, 2005, Belgriate, Italy.
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M. Spraul, W. Nüchter, B. Wunderle, B. MichelComparison of Lifetime Predictions with 3D Finite Element Models of a High Density Flip Chip without Underfill on LTCC.Proc. 6th EuroSIME 2005, Berlin, Germany, pp. 441-447, 2005
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Frühauf, J.Werkstoffe der MikrotechnikLehruch für IngenieureFachbuchverlag Leipzig im Carl Hanser Verlag, München Wien, 2005
ISBN 3-446-22557-9
Verfügbar in Universitätsbibliothek -
Frühauf, J.Shape and Functional Elements of the Bulk Silicon MicrotechniqueA Manual of Wet Etched Silicon StructuresSpringer Verlag, Berlin Heidelberg New York, 2005
ISBN: 3-540-22109-3
Verfügbar in Universitätsbibliothek -
Frühauf, J.; Gärtner, E.; Seifert, M.Solid Hinge Guide Made by Silicon Bulk Technology.Proceedings of the EUSPEN, p. 329, Montpellier 2005
ISBN: 92-990035-0-5 -
Krüger-Sehm, R.; Dziomba T.; Frühauf, J.Determination of the short wavelength cutoff of interferential and confocal microscopesProceedings of the 10th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, St. Etienne, France, July 4-7 2005 p. 21-28
ISBN: 2-86272-389-4 -
Frühauf, J.; Krönert S.Wet etching of silicon gratings with triangular profilesMicrosyst. Technol. 11 (2005) 1287-1291
ISSN: 0946-7076
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Veröffentlichungen 2004
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Frühauf, J.; Krönert, S.Linear Silicon Gratings with Different Profiles: Trapezoidal, Triangular, RectangularXI. International Colloquium on Surfaces, Chemnitz, Germany, February 2-3 2004
Proceedings Part II 75-83, Shaker-Verlag Aachen 2004 ISBN: 3-8322-2419-X -
Frühauf, J.; Krönert, S.; Brand, U.; Krüger-Sehm, R.Reachable precision of silicon dimensional standardsProceedings of the EUSPEN, p. 217, Glasgow 2004
ISBN: 1861941080 -
Frühauf, J.; Gärtner, E.; Brand, U.; Döring, L.Silicon springs for the calibration of the force of hardness testing instruments and tactile profilometersProceedings of the EUSPEN, p. 362, Glasgow 2004
ISBN: 1861941080 -
Frühauf, J.Ätzmasken-Entwurf und Simulation des kristallorientierungsabhängigen Silizium-ÄtzensTagungsband 10. GMM-Workshop Methoden und Werkzeuge zum Entwurf von Mikrosystemen (Hrsg. B. Falter; W. John), Cottbus 2004, S. 19-23
ISSN: 0947-1413 -
Krüger-Sehm, R.; Häßler-Grohne, W.; Frühauf, J.Traceable calibration standard for the lateral axis of contact stylus instrumentsWear, Vol. 257 Nr. 12 (2004), 1241-1245
ISSN: 0043-1648
Veröffentlichungen 2003
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Frühauf, J.Silicon as a suitable material in precision engineeringProceedings of the EUSPEN, p. 39, Aachen 2003
ISBN: 3-926832-30-4 -
Gärtner, E.; Frühauf, J.; Jänsch, E.Flexural solid hinges etched from siliconProceedings of the EUSPEN, p. 43, Aachen 2003
ISBN: 3-926832-30-4 -
Frühauf, J.; Krönert, S.; Krüger-Sehm, R.Precision of etched bulk silicon structures with dimensions up to the mm-rangeProceedings of the EUSPEN, p. 253, Aachen 2003
ISBN: 3-926832-30-4 -
Döring, L,; Brand, U.; Peiner, E.; Frühauf, J.; Gärtner, E.Development of micro force setting standards for stylus instrumentsProceedings of the EUSPEN, p. 407, Aachen 2003
ISBN: 3-926832-30-4 -
Krüger-Sehm, R., Häßler-Grohne, W., Frühauf, J.Traceable calibration standard for the lateral axis of contact stylus instruments9th Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, 10.-11.09.2003, Halmstad, Sweden, Proceedings, p. 7-14
ISBN: 91-631-5455-2 -
Kuhn, M.; Flaspöhler, M.; Krönert, S.; Kaufmann, C.; Geßner, T.; Hübler, A.; Frühauf, J.Herstellung und Charakterisierung von mikromechanischen Scannern mit integrierten Beugungsgittern6. Chemnitzer Fachtagung Mikromechanik & Mikroelektronik, 29./30. Oktober 2003, Chemnitz, Germany, Tagungsband S. 60-64
ISBN: 3-00-011655-9 -
Gärtner, E.; Frühauf, J.; Krönert, S.; Jänsch, E.Festkörpergelenkführungen aus Si mit bis zu +/- 5 mm Hub6. Chemnitzer Fachtagung Mikromechanik & Mikroelektronik, 29./30. Oktober 2003, Chemnitz, Germany, Tagungsband S. 118-121
ISBN: 3-00-011655-9
Veröffentlichungen 2002
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Frühauf, J.; Trumpold, H.Silicon Standards for Assessment and Calibration of Stylus ProbesAnnals of the CIRP Vol. 51/1/2002, 475-478
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Jänsch, E.; Gärtner, E.; Frühauf, J.Biegebruchfestigkeiten von geätzten und verformten Silicium-MikrostrukturenFreiberger Forschungshefte B321 Werkstofftechnologie (2002) 'Kristallisation und Technik', S. 238-253
Herausgeber: H.-J. Möller, E. Buhrig und Rektor der TU Bergakademie Freiberg (2002)
ISBN: 3-86012-173-1 -
Flaspöhler, M.; Kuhn, M.; Kaufmann, C.; Guessous, F.; Frühauf, J.; Gessner, T.; Hübler, A.Image capturing method using a microactuator with diffraction gratingActuator 2002, 8th International Conference on New Actuators, 10-12 June 2002, Bremen, Germany, Conference Proceedings 325-328,
ISBN: 3-933339-04-9 -
Hanf, H.; Bennini, F.; Frühauf, J.; Gärtner, E,; Dötzel, W.Realization of electrostatically driven Actuators using curved electrodes using by sillicon bulk micromachining techniquesActuator 2002, 8th International Conference on New Actuators, 10-12 June 2002, Bremen, Germany, Conference Proceedings 329-332,
ISBN: 3-933339-04-9
Veröffentlichungen 2001
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Gärtner, E.; Frühauf, J.; Löschner, U.; Exner, H.Laser bending of etched silicon microstructuresMicrosystem Technologies 7 (2001) 23-26
ISSN: 0946-7076 -
Gärtner, E.; Frühauf, J.; Hannemann, B.; , Jänsch, E.Mounting of Si-chips with plastically bent cantileversTransducers '01 Eurosensors XV, The 11th International Conference on Solid State Sensors and Actuators, Munich, Germany, June 10-14, 2001
Digest of technical Papers Vol.1 1C3.08P, p. 206-209
ISBN: 3-8265-6999-7 -
Frühauf, J.; Krönert, S.; Brand, U.Tiefen- und L�ngennormale aus Siliziumtm - Technisches Messen 68, 7-8 (2001) 326-332
ISSN: 0171-8096 -
Gärtner, E.; Frühauf, J.; Jänsch, E.Plastic reshaping of silicon microstructures: process, characterization and applicationMicrosystem Technologies 7 (2001) 155-160
Veröffentlichungen 2000
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Frühauf, J.; Hannemann, B.Wet etching of undercut sidewalls in (001)-SiliconSensors and Actuators A 79 (2000) 55-63
ISSN-Nr: 0924-4247 -
Frühauf, J.; Hannemann, B.; Löhr, K.Measurement of form profiles of microstructures using stylus instruments - problems and toolsX. International Colloquium on Surfaces, 31st January to 2nd February of the year 2000, Chemnitz University of Technology, Proceedings, p. 322-329
ISBN: 3-8265-6999-7 -
Gärtner, E.; Frühauf, J.; Jänsch, E.Plastic reshaping of silicon microstructures: process, characterization and applicationMicro Materials 2000, April 17-19, 2000, Berlin, Germany, Proceedings of the 3rd International Micro Materials Conference
Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner, H. Fecht. Verlag ddp goldenbogen Dresden, pp. 1165-1168 -
Bennini, F.; Frühauf, J.; Dötzel, W.High force and large displacement electrostatic actuators with curved electrodes using silicon bulk micromachiningActuator 2000, 7th International Conference on New Actuators, 19-21. June Bremen, Germany, Proceedings
ISBN: 3-933339-02-2, p.87-90
Veröffentlichungen 1999
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Frühauf; J.; Gärtner, E.; Jänsch, E.New aspects of the plastic deformation of silicon - prerequisites for the reshaping of silicon microelementsAppl.Phys.A 68 (1999) 673-679
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Frühauf; J.; Hannemann, B.
Mikrotechnik in Bestform - Designunterstützung für Funktionselemente aus SiliziumF&M Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Mikroelektronik, Jahrg. 107(1999) Nr.5, 50-52 -
Dötzel, W.; Frühauf, J.; Gessner, T.; Hühnerfürst, A.; Kehr, K.; Gätner, E.; Jänsch, E.Characterization of elastic and plastic behaviour of materials in silicon micromechanics in Materials Mechanics - Fracture Mechanics - MicromechanicsAn Anniversary Volume in Honeur of B. Michel's 50th Birthday, Editors: T. Winkler, A. Schubert, Fraunhofer IZM Berlin, Chemnitz 1999, p.243-249
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Hannemann, B; Frühauf, J.Micro-optical silicon elements fabricated by wet chemical etchingProc. SPIE Vol. 3739, 9 (1999), Optical Fabrication and Testing, (Roland Geyl; Jonathan Maxwell; Eds.) p. 213-223
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Frühauf, J.; Gärtner, E.; Jänsch, E.Silicon as a Plastic MaterialJ. Micromech. Microeng. 9 (1999) 305-312
Veröffentlichungen 1998
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Hannemann, B.; Frühauf, J.New and extended possibilities of orientation dependent etching in microtechnicsProceedings IEEE The Eleventh Annual International Workshop on Mico Electro Mechanical Systems MEMS'98, January 25-29, 1998, Heidelberg, Germany, 234-239
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Frühauf, J.Problems of contour measuring on microstructures using a surface profilerMeas. Sci. Technol. 9 (1998) 293-296
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Frühauf, J.; Gärtner, E.; Jänsch, E.Disloction content and fracture of plastically deformed silicon microstructuresThe 9th Micromechanics Europe Workshop MME '98, June 3-5, 1998, Ulvik in Hardanger, Norway, Proccedings, p.66-69
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Hannemann, B.; Frühauf, J.A catalogue of shapes and elements of Si-bulk microtechnique, producable by anisotropic chemical wet etchingThe 9th Micromechanics Europe Workshop MME '98, June 3-5, 1998, Ulvik in Hardanger, Norway, Proccedings, p.311-314
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Gärtner, E.; Frühauf, J.; Jänsch, E.Plastische Verformung von Silizium-MikrostrukturelementenK. Kempter und J. Haußelt (Hrsg.) Werkstoffwoche '98, Band I, Symposium 12 Mikrosystemtechnik, Wiley-VCH, Weinheim; New York; Chichester; Brisbane; Singapore; Toronto, 1999, 315-320
Veröffentlichungen 1997
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Frühauf, J.Kapitel Werkstoffe der Mikrosystemtechnikin Grundlagen der Mikrosystemtechnik
Herausgeber: G. Gerlach; W. Dötzel, München, Wien, 1997, Carl Hanser Verlag -
Frühauf, J., Franke, C.Plastic deformation of silicon microelements at high temperaturesMicro Materials '97, April 16-18, 1997, Berlin Germany
Proceedings of the International Conference and Exhibition ed. by Deutscher Verband f�r Materialforschung und -prüfung e.V.
Berlin April 16-18, 1997 Berlin, Germany, 459-462 -
Zielke, D.; Frühauf, J.Complete simulation support for orientation dependent etched MEMSin Adey, R.A.; Renaud, Ph. (Eds.): MICROSIM II Simulation and Design of Microsystems and Microstructures,
Computational Mechanics Publications, 261-270
2nd International Conference Simulation and Design of Microsystems and Microstructures
17-19 September 1997, Lausanne, Switzerland