M.Eng. Nessma Hafez
Technische Universität Chemnitz (Promotionsstudentin)
Arbeitsgebiete
- Forschung
- Untersuchungen zur MOS-Detektion für Nano-Resonatoren
- Lehre
- Übung "Bauelemente der Mikro- und Nanotechnik"
- Übung "Micro- and Nanodevices"
- Übung "Lithografie für Nanosysteme"
Kontakt
| Telefon: | +49 371 531-31837 |
| Fax: | +49 371 531-24449 (Sekretariat) / +49 371 531-831837 (persönlich) |
| E-Mail: | nessma-ibrahim-kamel.hafez@… |
| Sitz: | Reichenhainer Str. 70 (Weinhold-Bau), Zimmer 321 (neu: C25.321) |
| Postanschrift: |
N. Hafez Technische Universität Chemnitz Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik Professur Elektronische Bauelemente der Mikro- und Nanotechnik D-09107 Chemnitz |
Veröffentlichungen
- Hafez, N.: Monolithische Integration von Feldeffekttransistoren als elektromechanische Wandler für mechanischen Stress, 3rd Polish-German BRIDGE CONFERENCE, 29. Juni - 1. Juli 2023, Krzyżowa, Polen
- Kimme, S.; Hafez, N.; Titsch, Ch.; Werner, J. M.; Nestler, A.; Drossel, W.-G.: Close-to-process strain measurement in ultrasonic vibration-assisted turning, Journal of Sensors and Sensor Systems. - Copernicus GmbH. - 8. 2019, S. 285 - 292 , doi:10.5194/jsss-8-285-2019
- Hafez, N.; Haas, S.; Loebel, K.-U.; Reuter, D.; Ramsbeck, M.; Schramm, M.; Horstmann, J. T.; Otto, T.: Characterisation of MOS Transistors as an Electromechanical Transducer for Stress, Physica Status Solidi (a) - Applications and Materials Science, 10 January 2018, doi:10.1002/pssa.201700680
- Hafez, N.; Ramsbeck, M.; Kögel, E.; Haas, S.; Reuter, D.; Schramm, M.; Loebel, K.-U.; Horstmann, J. T.; Gessner, T.: Elektrische Analyse von integrierten Feldeffekttransistoren als elektromechanische Wandler für mechanische Spannung, 13. Chemnitzer Fachtagung Mikrosystemtechnik, 25./26.10.2016, ISBN 978-3-00-054047-9, S. 79-81
- Haas, S.; Hafez, N.; Loebel, K.-U.; Kögel, E.; Ramsbeck, M.; Reuter, D.; Horstmann, J. T.; Gessner, T.: Direktintegrierte Feldeffekttransistoren als elektromechanische Wandler für mechanische Spannungen an Balkenstrukturen, Mikro-Nano-Integration 6. GMM Workshop, Duisburg, 2016 Okt 05-06, ISBN 978-3-8007-4278-3, pp. 13-16
- Hafez, N.; Ramsbeck, M.; Kögel, E.; Haas, S.; Reuter, D.; Schramm, M.; Loebel, K.-U.; Horstmann, J. T.; Gessner, T.: Electrical Analysis of Integrated Field Effect Transistors as Electromechanical Transducer for Stress, 42nd Micro and Nano Engineering, Wien, 2016 Sep 19-23, Poster, p 155
