Professur Schaltkreis- und Systementwurf
Test of Digital and Mixed-Signal Circuits
Professur Schaltkreis- und Systementwurf 

Test of Digital and Mixed-Signal Circuits

Fehlerhafte Systeme sind ein Ärgernis für alle Nutzer. Moderne Testverfahren helfen den Herstellern, möglichst viele Fehler bereits vor der Auslieferung an den Kunden zu erkennen. So werden teure Rückrufaktionen vermieden und das Qualitätsempfinden steigt. 

Ziel der Lehrveranstaltung ist das Sensibilisieren der Teilnehmer für die Testproblematik und das Kennenlernen von Methoden des testfreundlichen Entwurfs. Diese umfassen sowohl Maßnahmen direkt in der Hardware als auch Algorithmen für entsprechende externe Testgeräte.

Die Lehrveranstaltung besteht aus Vorlesung, Übung und Seminar.

Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache gehalten.

Kursmaterial

Ist in OPAL verfügbar: Einschreibung. 

Lehrinhalte

  • Bedeutung des Tests, Teststrategien
  • Fehlermodelle
  • Testmustererzeugung
  • Testfreundlicher Entwurf
  • Boundary Scan
  • Industrieller Test

Prüfung

Informationen zur Prüfung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.

Termine

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