Technische Ausstattung
Mikrostrukturanalyse, Werkstoffanalytik und Werkstoffcharakterisierung
Transmissionselektronenmikroskop HITACHI H8100 mit Röntgenmikrobereichsanalyse EDAX GENESIS
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Untersuchung gedünnter Probenbereiche (Restdicke 30 - 300 nm) im Quer- oder Planschnitt von:
- Werkstoffen, Verbundwerkstoffen und Werkstoffverbunden
- Beschichtungen
- Vergrößerungen: 5.000-fach bis 200.000-fach
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Aussagen zu:
- Kristallitgröße, -form, -orientierung,
- Gitterdefekten, Phasenidentifikation,
- Zustand innerer Grenzflächen
- Ortsauflösungsvermögen der Feinbereichselektronenbeugung: ca. 500 nm
- Ortsauflösungsvermögen der Röntgenmikrobereichsanalyse: ca. 50 nm
→ siehe auch Dienstleistung Analytische Rasterelektronenmikroskopie
Ansprechpartner
Dr.-Ing. Andreas Gester
- Telefon:+49 371 531-33649
- Fax:+49 371 531- 833649
- Raum:3, 3/A105
- E-Mail:
