Technische Ausstattung
Verbundwerkstoffe
Laser Scanning Mikroskopie
Gerät: VK X200 von KEYENCE
Spezifikationen:
- Messgrößen: Profil , Flächen, Volumen, Verschleiß und Höhenunterschiede
- Probenanforderungen: horizontale Lage der Untersuchungsfläche in sauberen staubfreien Zustand
- Messbereich: 10x, 20x, 50x, 150x
- Auflösung: 0,0005 µm (Höhe) 0,001µm (Breite)
- Hochauflösende Farbbetrachtungen ohne Präparation des Messobjekts
- Hochauflösende Bilder und große Schärfentiefe
- Zerstörungsfreie Profilometrie und Rauheitsmessungen
- Schnelle 3D Farbbilder
Anwendungen:
- Abbildung von Werkstoffoberflächen und präparierten Flächen, quantitative Charakterisierung der Topografie mit hohem Auflösungsvermögen, besonders in z-Richtung
- Berührungsloses 3D-Messsystem führt Profil-, Rauheits- und Dickenmessungen im Nanometer-Bereich auf fast jedem Material
Ansprechpartner
Dr.-Ing. Maik Trautmann
- Telefon:+49 371 531-38846
- Fax:+49 371 531-838846
- Raum:3, 3/A104
- E-Mail:
