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2018
Image Processing Based Insulator Fault Detection Method
IN 2018 XIV International Scientific-Technical Conference on Actual Problems of Electronics Instrument Engineering (APEIE), page 579 - 583, Technische Hochschule Ingolstadt Zentrum für Angewandte Forschung (ZAF), Esplanade 10, 85049 Ingolstadt, November 2018. ISBN: 978-1-5386-7054-5, ISSN: 2473-8573
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