Technische Ausstattung
Bei Fragen zu den Methoden und Geräten können Sie uns gern kontaktieren.
Rastersondenmikroskopie
Tieftemperatur-STM
- Rastertunnelmikroskopie/spektroskopie bei Tieftemperatur bis zu 4.5 K
- In situ epitaxiales Wachstum von molekularen Adlayern
- Elektrospray-System zur Abscheidung von großen und fragilen Molekülen
- LEED-Messungen (Low Energy Electron Diffraction)
Variable Temperatur STM
- In situ epitaxiales Wachstum von molekularen Adlayern
- Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskopie mit fließendem Kryostat
- Sputtertemperzyklen von Metallkristallen
Burleigh ambient STM
- Ambient STM
- Elektronisches Steuerungssystem von Burleigh Instructional STM
- Rasterkraftmikroskop (Burleigh)
- Rasterelektrisches Kraftmikroskop (SEFM) (Erweiterung von TopoMetrix AFM)
Elektronenmikroskopie
Philips CM 20 - aktuell nicht mehr einsatzfähig
- 200 kV Hochauflösungstransmissionselektronenmikroskop
- Field Emission Gun (FEG)
- Gatan Imaging Energy Filter (GIF)
FEI Nova NanoSEM 200
- Schottky Field Emission Gun
- Rückstreuelektronen
- Analytische Detektoren für:
- Röntgen-Mikroanalyse
- Electron Backscattering Diffraction (EBSD)
- Cathodolumineszenz
Spektroskopie
EELS - LEED
- EELS-LEED: Elektronenenergieverlustspektroskopie - Beugung niederenergetischer Elektronen an Oberflächen
- Ausgestattet mit einer Ablenkeinheit ermöglicht es eine präzise Steuerung der Impulsübertragung
- Es wird eine hohe Energieauflösung erreicht
- 0,01 InvAngstrom-Impuls und 10 meV Energieauflösung
- Misst Anregungen mit niedriger Energie (Plasmonen).
- Unikat
Beugung
SPA - LEED
- SPA-LEED: Punkt Profil Analyse - Beugung niederenergetischer Elektronen an Oberflächen
- Eigenentwicklung von M. Henzler
- Zwei Geometrien im reziproken Raum: normale Einfallsgeometrie und streifende Einfallsgeometrie
- Niedrigauflösender Rasterelektronenmikroskopie-Modus
- CEM (Channeltron Electron Multiplier) analysiert die reflektierte Intensität und ermöglicht die Aufzeichnung von Spotprofilen
Transport
Vier-Spitzen-STM/SEM (4pp-STM/SEM)
- Transportexperimente bis in den Nanobereich
- Vier individuell gesteuerte STM-Spitzen
- Hochauflösendes REM zur Beobachtung und Elektronenstrahllithographie
- Durchflusskryostat für einen weiten Temperaturbereich
- In situ epitaktisches Schichtwachstum und Charakterisierung durch LEED
Magnetotransport
- Elektronischer Transport in niedrigdimensionalen Nanostrukturen in Abhängigkeit von einem Magnetfeld von -4 bis +4 T.
- Der Winkel zwischen Magnetfeld und Probe ist frei einstellbar
- Temperaturabhängiger Transport von 10 bis 400 K.
- In-situ-Wachstum von epitaktischen Dünnfilmen
- LEED-Messungen (Low Energy Electron Diffraction)
Mechanisch kontrollierte Bruchkontakte
MCBJ
- Kontaktierung von Einzelmolekülen
- Kühlung bis 70K
- Stabile atomare Punktkontakte bis zu 1 Stunde
Lichtmikroskopie
Keyence Digital Microscope VHX-500
- Durchlicht- und Auflichtbetrieb
- Verschiedene Objektivlinsen
- Kameraauflösung 1600x1200 px
Präparation
Ionenätze
Leica TIC020
- Böschungsätzen mit drei Ionenquellen
- Erlaubt die Zielpräparation von Proben für die SEM-Analyse
- Für die Querschnittpräparation jeglicher Materialien geeignet mit geringer notwendiger Vorpräparation
- Verschiedene Spannungen und Ströme einstellbar
- Zeitgesteuert
Ionenätze
Leica TIC 3X
- Dreifach-Ionenstrahlätze
- Ermöglicht Herstellen von Proben-Querschnitten und ebenen Oberflächen für SEM-,EBSD-,und AFM-Untersuchungen
- Vor Einsatz sind evtl. Vorpräparationen erforderlich
- Verschiedene Spannungen und Ströme einstellbar
- Zeitgesteuert
Ionenätze
Leica RES 102
- Dünnen und Polieren von Proben
- Verschiedene Spannungen und Ströme einstellbar
- Zeitgesteuert
mechanische Probenbearbeitung
Leica TXP
- Gerät zur Probenvorbereitung
- Zum Schneiden, Fräsen, Sägen, Schleifen, Polieren von Proben vor Einsatz /Bearbeitung in TIC 3X oder TIC 020
