Festkörperanalytik für Forschung und Praxis
"17. Tagung Festkörperanalytik" findet vom 1. bis zum 3. Juli 2013 an der TU Chemnitz statt - breites Spektrum innovativer Methoden angewandt auf neuartige Materialien
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Die Abbildung zeigt ein mit dem leitfähigen Raster-Kraft-Mikroskop gemessenes lokales Leitfähigkeitsmapping von gebündelten Kohlenstoff-Nanoröhrchen, die für eine neue Generation von Leitbahnsystemen erforscht werden. Diese Gemeinschaftsarbeit des Instituts für Physik der TU Chemnitz und des Fraunhofer-Instituts für Elektronische Nanosysteme ENAS stellt Dr. Marius Toader bei der Tagung vor. Bild: Institut für Physik
Methodische und instrumentelle Entwicklungen sowie komplexe Anwendungen und Problemlösungen stehen im Mittelpunkt der "17. Tagung Festkörperanalytik", zu der rund 100 Wissenschaftler vom 1. bis zum 3. Juli 2013 an der TU Chemnitz erwartet werden. "Zentrales Anliegen ist der wissenschaftliche Gedankenaustausch zwischen Werkstoffspezialisten, Festkörperphysikern, Physikochemikern, Analytikern, Geräteherstellern, Technologen sowie weiteren Anwendern", berichtet Tagungsleiter Prof. Dr. Michael Hietschold, Inhaber der Professur Analytik an Festkörperoberflächen an der TU Chemnitz.
In Vorträgen, Posterpräsentationen sowie vielfältigen Diskussionen geht es in diesem Jahr um die Themenschwerpunkte Element-, Verbindungs- und Strukturanalytik insbesondere im Hinblick auf Anwendungen für die Mikro- und Nanotechnologie, neue Materialien für die Spintronik sowie neue Methoden und Entwicklungen in der festkörperanalytischen Gerätetechnik. Die Tagung wird von einer Firmenausstellung begleitet, die es den Teilnehmern ermöglicht, neue Geräteentwicklungen teilweise live kennen zu lernen. "Ein kleiner Tipp an unsere Studenten: Bei den ausstellenden Firmen kann jedermann vorbei schauen - und mancher hat bei solchen Gelegenheiten schon einen möglichen Arbeitsplatz nach seinem Studium avisiert", so Prof. Hietschold.
Highlights dieser Tagung sind unter anderem Vorträge von Claus M. Schneider (Jülich) über Analytik spintronischer Materialsysteme, Christian Schroer (Dresden) zu neue Entwicklungen in der Röntgenmikroskopie, Jürgen Smoliner (Wien) über leitfähige Raster-Kraft-Mikroskopie und Hans-Jürgen Engelmann (Global Foundries) zur Nanoanalytik für CMOS-Technologie. "Auch der Bericht von Dietrich Zahn über die neuesten Ergebnisse zur spitzenverstärkten Raman-Spektroskopie an der TU Chemnitz wird ganz sicher auf großes Interesse stoßen", blickt Hietschold voraus. Eine kleine Exkursion wird den Teilnehmern Gelegenheit geben, das Schloss Lichtenwalde in der Chemnitzer Umgebung kennenzulernen.
Veranstalter der Tagung sind das Institut für Physik der TU Chemnitz, NanoMa (Center for Nanostructured Materials and Analytics, Chemnitz), der Fachverband Mikrosonden und der Fachverband Dünne Schichten in der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG), das Institut für Chemische Technologien und Analytik der TU Wien und die Gesellschaft Deutscher Chemiker (GDCH) sowie die Österreichische Gesellschaft für Analytische Chemie (ASAC) in der GÖCh. Unterstützt wird die Tagung weiterhin von der Gesellschaft der Freunde der TU Chemnitz sowie den ausstellenden Firmen.
"Die Historie dieser Tagung, die im zweijährigen Rhythmus abwechselnd in Chemnitz und Wien stattfindet, reicht bis zum Jahre 1981 zurück als sich noch zu DDR-Zeiten beherzte Hochschullehrer unserer Universität um eine Internationalisierung des Wissenschaftsbetriebs verbunden auch mit einer gewissen Öffnung in den nichtsozialistischen Bereich bemühten", erzählt Hietschold und ergänzt: "Heute ist diese Tagung in der Fachwelt gut etabliert."
Weitere Informationen unter http://www.tu-chemnitz.de/physik/AFKO/FKA17/ und bei Prof. Dr. Michael Hietschold, Telefon 0371 531-33203, E-Mail michael.hietschold@physik.tu-chemnitz.de.
Katharina Thehos
25.06.2013
